中国仪器网

欢迎您: 请登录 免费注册 仪器双拼网址:www.4mt5e.com.cn
官方微信
老时时彩开奖历史记录

极速时时彩技巧:薄膜测厚仪

赛默飞世尔
老时时彩开奖历史记录/ 产品中心/ 物性测试仪器/ 测厚仪/ 薄膜测厚仪
薄膜测厚仪

薄膜测厚仪概述

薄膜测厚仪又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等,薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。薄膜测厚仪根据其测量方式的不同,可分为:接触式薄膜测厚仪,非接触式薄膜测厚仪。非接触式薄膜测厚仪的出现,大大提高了纸张等片材厚度测量的精度,尤其是在自动化生产线上,得到广泛应用。
C11011-01W 微米膜厚测量仪

C11011-01W 微米膜厚测量仪

品牌:滨松光子
型号:C11011-01W
C11627-01 纳米膜厚测量仪系列

C11627-01 纳米膜厚测量仪系列

品牌:滨松光子
型号:C11627-01
思克测试高品质封口强度测试仪

思克测试高品质封口强度测试仪

品牌:济南思克
型号:1801
C10178-01 纳米膜厚测量仪系列

C10178-01 纳米膜厚测量仪系列

品牌:滨松光子
型号:C10178-01
美国布鲁克台阶仪

美国布鲁克台阶仪

品牌:德国布鲁克
型号:DektakXT
薄膜测厚仪查询条件
产品品牌
更多品牌
产品产地
不限 中国大陆 大洋洲欧洲亚洲美洲
厂商性质
不限 生产商授权代理商一般经销商
销售地区
江苏山东上海北京安徽浙江福建广东广西海南湖北河南江西天津河北山西宁夏西藏青海陕西四川云南贵州甘肃辽宁吉林黑龙江内蒙古香港台湾澳门湖南重庆新疆
不限
展开更多选项
薄膜测厚仪产品列表
排列样式:
  • >
薄膜测厚仪

薄膜测厚仪

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: THI-1801
  • 产地:济南
  • 包装检测仪器,请选思克测试!思克将回报您更多意想不到的操作体验和服务。思克测试,诚信企业!更多信息,请致电垂询!SYSTESTER思克,专业+创新+技术+产品+服务;SYSTESTER思克,More than your think!

聚酯膜触摸屏测厚仪操作简单

聚酯膜触摸屏测厚仪操作简单

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: THI-1801
  • 产地:济南
  • 更多聚酯膜触摸屏测厚仪操作简单信息,请致电垂询!SYSTESTER思克,专业+创新+技术+产品+服务;SYSTESTER思克,More than your think!

FSM - 应力及厚度在线量测系统

FSM - 应力及厚度在线量测系统

  • 品牌: 美国Frontier Semiconductor
  • 型号: FSM 900 系列/FSM 128 系列
  • 产地:美国
  • 产品简介FSM 900 系列新型材料在高温下很容易氧化。他们还容易产生氣體及发生物质变化,FSM 900TC-Vac 型号给工艺提供了一个封闭的加热腔。它可以应用於完全的充氣环境或高真空的模式。集成化的 FSM 900TC-Vac 系统可以快速协助新材料处理热稳定和热负载。? 温度範围: 可达9000C (200mm 及 300mm晶圆)? Thermal Desorption Spectroscopy (TDS -系统可以起独立的TDS作用- 分析整个或破损的晶圆,监测在温度循壞内的各種各样的氣體排放。? 低K,铜和其他薄膜材料的表徵? 温度高达9000C? 在真空或惰性氣體中操作  FSM 128 系列所有FSM 128 系列都可以配备自动平均基板厚度测量功能,以评估用於应力评估的输入晶圆。? 128NT : 可以测试200mm以下的晶圆? 128L :可以测试300mm以下的晶圆? 128G :可以测试450mm以下的晶圆? 128 C2C: 弹夹到弹夹的全自动设备,可以测量300mm以下的晶圆? 半导體和平板应用的弓型和球型薄膜应力绘图? 非接觸全晶片应力绘图? 双波长雷射器交换技术  尺寸精度量测 (DIMENSIONAL METROLOGY)无损的光学探头检测晶圆厚度,TSV,bumps 和其他需要测量的需求。FSM 8108 VITE 系列 ? 晶圆的厚度,薄膜的厚度及TTV? 绝对厚度,形状,翘曲? Si, GaAs 等? 磁带,玻璃,蓝宝石 等? 多種材料的Stacks? Through Silicon Via (TSV) - 显微镜下可选 TSV的测量及Trench 深度测量? Bumps 的高度测量? 可选粗糙度的刻蚀或抛光的晶圆的测量? 可选薄膜厚度的测量FSM 413 系列? 使用非接觸式的测量方式来量测基板的厚度? XY方向精度达到0.5微米? 自动化的系统? 可编程的系统? 可测量TSV和Bump? 用微波形式测量矽的深度? 極佳的稳定性及重複性FSM 拉曼優势创新技术及工具自动化? 带领技术创新的紧凑型量测系统? 用於设备分析方面,性能優越的光谱解析度 (0.1cm-1)? 由1988年开始,在晶圆工廠自动化中成功地控制测量技术      

供应RoHS检测仪器/无卤检测仪

供应RoHS检测仪器/无卤检测仪

  • 品牌: 深圳禾苗
  • 型号: E8-SDD
  • 产地:深圳
  • HeLeeX E8是一款专门RoHS检测仪器,其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF尖端技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;HeLeeXE8精密度高、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器。

供应RoHS检测仪器、无卤检测仪

供应RoHS检测仪器、无卤检测仪

  • 品牌: 深圳禾苗
  • 型号: E8
  • 产地:深圳
  • HeLeeX E8是一款专门RoHS检测仪器,其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF尖端技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;HeLeeXE8精密度高、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器。

众测薄膜测厚仪THK-01

众测薄膜测厚仪THK-01

  • 品牌: 济南众测
  • 型号: THK-01
  • 产地:济南
  • ★测头采用标准M2.5螺纹连接方式,可连接各种形式百分表,千分表表头进行测量; ★可拆卸螺纹连接配重块,可满足各种标准要求及非标压力定制; ★嵌入式高速微电脑芯片控制,简洁高效的人机交互界面,为用户提供舒适流畅的操作体验 ★标准化,??榛?,系列化的设计理念,可最大限度的满足用户的个性化需求 ★触控屏操作界面 ★7寸高清彩色液晶屏,实时显示测试数据及曲线 ★进口高速高精度采样芯片,有效保证测试准确性与实时性 ★内置微型打印机,可实现实时历史数据打印功能 ★标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输 ★严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制 ★高精度测厚传感器,精度高重现性好 ★可采用标准厚度计量工具标定、检验 ★多种测试量程可选 ★实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断

ThetaMetrisis薄膜测厚仪

ThetaMetrisis薄膜测厚仪

  • 品牌: 希腊ThetaMetrisis
  • 型号: FR-Basic UV/VIS
  • 产地:希腊
  • ?名词:膜厚仪   膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精度,干涉条纹每移动一个条纹间距,光程差就改变一个波长(~10-7米),所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的,其测量精度之高是任何其他测量方法所无法比拟的。应用领域:   1、半导体晶片   2、液晶产品(CS,LGP,BIU)    3、微机电系统   4、光纤产品   5、数据存储盘(HDD,DVD,CD)   6、材料研究   7、精密加工表面   8、生物医学工程产品特点1 、非接触式测量:避免物件受损。   2 、三维表面测量:表面高度测量范围为 2nm ---500μm。    3 、多重视野镜片:方便物镜的快速切换。   4 、纳米级分辨率:垂直分辨率可以达0.1nm。   5、高速数字信号处理器:实现测量仅需几秒钟。   6 、扫描仪:闭环控制系统。   7、工作台:气动装置、抗震、抗压。   8 、测量软件:基于windows 操作系统的用户界面,强大而快速的运算Type 光谱范围厚度测量范围** FR-Basic UV/VIS 200nm - 850nm 2nm - 90μm FR-Basic VIS/NIR 350nm – 1000nm 20nm - 150μm FR-Basic RED/NIR 600nm – 1100nm 100nm - 500μm FR-Basic UV/NIR-HR 200nm - 1100nm 2nm - 110μm FR-Basic UV/NIR-SG 200nm - 950nm 2nm - 110μm FR-Basic VIS/NIR-SG 350nm - 1100nm 10nm - 300μm FR-Basic NIR 900nm - 1700nm 100nm - 200μm FR-Basic D 350nm – 1700nm 20nm – 200μm

SR100薄膜分析仪

SR100薄膜分析仪

  • 品牌: 美国Angstrom Sun
  • 型号: SR100
  • 产地:美国
  • 1,测试单、多层透光薄膜的厚度、折射率以及吸收系数 2,实现薄膜均匀性检测 3,实现反射、投射以及颜色测量

SR300薄膜分析仪

SR300薄膜分析仪

  • 品牌: 美国Angstrom Sun
  • 型号: SR300
  • 产地:美国
  • 1,测试单、多层透光薄膜的厚度、折射率以及吸收系数 2,实现薄膜均匀性检测 3,实现反射、投射以及颜色测量

SR500薄膜分析仪

SR500薄膜分析仪

  • 品牌: 美国Angstrom Sun
  • 型号: SR500
  • 产地:美国
  • 1,测试单、多层透光薄膜的厚度、折射率以及吸收系数 2,实现薄膜均匀性检测 3,实现反射、投射以及颜色测量

椭偏仪SE500

椭偏仪SE500

  • 品牌: 美国Angstrom Sun
  • 型号: SE500
  • 产地:美国
  • 椭偏仪是一种利用偏振态的变化 后光束探测样品反应技术。不像反射仪,椭偏仪参数(PSI和Del)是在非正常的入射角得到。改变入射角??梢缘玫礁嗟氖菁?,这将有助于精炼模型,减少不确定性和提高用户的数据信心。因此,可变角度椭偏仪比固定角度的椭偏仪系统具有更强大的功能 。目前有两种方法改变入射角,手动或自动模式。

椭偏仪SE300

椭偏仪SE300

  • 品牌: 美国Angstrom Sun
  • 型号: SE300
  • 产地:美国
  • 椭偏仪是一种利用偏振态的变化 后光束探测样品反应技术。不像反射仪,椭偏仪参数(PSI和Del)是在非正常的入射角得到。改变入射角??梢缘玫礁嗟氖菁?,这将有助于精炼模型,减少不确定性和提高用户的数据信心。因此,可变角度椭偏仪比固定角度的椭偏仪系统具有更强大的功能 。目前有两种方法改变入射角,手动或自动模式。

光谱椭偏仪 SE200BA-M300

光谱椭偏仪 SE200BA-M300

  • 品牌: 美国Angstrom Sun
  • 型号: SE200BA-M300
  • 产地:美国
  • 椭圆光度法是一种在光束与探测样品反应后利用偏振态变化的技术。不像反射计,光谱椭偏仪参数(Psi和Del)总是以非法向入射角获得。通过改变入射角度??梢曰竦酶嗟氖菁?,这将有助于优化模型,减少不确定性并提高用户对模型输出的信心。因此,可变角度椭偏仪比固定角度椭偏仪系统强大得多。有两种方法可以手动或自动更改入射角度。Ansgtrom Sun technologies Inc设计了两种角度调节模型,通过精确预置的插槽(手动测角器,SExxxBM,低成本版本)以5度间隔移动手臂,以及使用0的电动精密测角器手动调节手指。01度分辨率(SExxxBA)。

PVD/CVD涂层(镀层)磨损率测试仪

PVD/CVD涂层(镀层)磨损率测试仪

  • 品牌: 奥地利安东帕
  • 型号: CAW
  • 产地:奥地利
  • 产品简介球磨型膜厚测试仪Calotest为您提供简单快速并且低成本的膜厚测量方法。一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中,磨球与试样的相对位置以及施加于试样的压力保持恒定。磨球与试样间的相对运动以及金刚石颗粒研磨液的共同作用将试样表面磨损出一球冠形凹坑。随后的金相显微镜观测可以获得磨损坑内涂层和基体部分投影面积的几何参数。在得知了X和Y的长度后,涂层的厚度D可以通过简单的几何公式计算得出。 膜厚及磨损测试仪Calowear将这个原理更加深了一步。通过监测球体施加在试样上的载荷,我们可以更好的控制薄膜的磨损。研磨液以恒定速率自动滴加在球体与试样界面,构成一个稳定的三体磨损系统。 Calowear不是一次性的磨损试样表面,而是将磨损过程分成几个不同的阶段来完成。磨损坑的形状以及法向力的数值在每阶段的磨损后进行记录。由此,薄膜以及基体的磨损率可以精确的计算出来。 技术参数:工作台尺寸: 50 x 50 mm 转动速率: 60 to 1200 rpm 标准磨球直径: 20, 25, 30mm 磨损时间范围: 10 - 90 sec or 1 - 9 min主要特点:薄膜与基体的磨损率测量 膜厚测量 适用于多种材料 可以导出数据进行更深入分析(例如: EXCEL 等)

TECLOCK指针式厚度计DM-210

TECLOCK指针式厚度计DM-210

  • 品牌: 日本得乐
  • 型号: DM-210
  • 产地:日本
  • TECLOCK指针式厚度计DM-210测量范围可以从5mm到230mm(继足使用)。对应的作业大幅度扩张。

TECLOCK指针式膜厚计DM-264

TECLOCK指针式膜厚计DM-264

  • 品牌: 日本得乐
  • 型号: DM-264
  • 产地:日本
  • TECLOCK指针式膜厚计DM-264常用于检测一些薄膜的厚度,测量值精准有效,测量效果稳定。

RoHS检测仪器/无卤检测仪

RoHS检测仪器/无卤检测仪

  • 品牌: 深圳禾苗
  • 型号: E8-SDD
  • 产地:深圳
  • HeLeeX E8是一款专门RoHS检测仪器,其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF尖端技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;HeLeeXE8精密度高、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器。

薄膜测厚仪/THI-1801/济南思克

薄膜测厚仪/THI-1801/济南思克

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: 1801
  • 产地:济南
  • 为您提供薄膜测厚仪/THI-1801/济南思克分 辨 率:0.1μm产品信息,如您想了解更多关于薄膜测厚仪/THI-1801/济南思克价格、型号、参数及厂家信息

薄膜测厚仪技术参数,价格

薄膜测厚仪技术参数,价格

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: 1801
  • 产地:济南
  • 薄膜测厚仪技术参数,价格适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

电池隔膜测厚仪(SYSTESTER思克)

电池隔膜测厚仪(SYSTESTER思克)

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: 1801
  • 产地:济南
  • 电池隔膜测厚仪(SYSTESTER思克)适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

全自动高精度测厚仪思克专利

全自动高精度测厚仪思克专利

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: 1801
  • 产地:济南
  • 全自动高精度测厚仪思克专利适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

薄膜全自动高精度测厚仪(思克)

薄膜全自动高精度测厚仪(思克)

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: 薄膜全自动高精度测厚仪(思克)
  • 产地:济南
  • 薄膜全自动高精度测厚仪(思克)适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

高精度触摸屏厚度仪

高精度触摸屏厚度仪

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: 测厚仪
  • 产地:济南
  • 高精度触摸屏厚度仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

太阳能封装胶膜测厚仪

太阳能封装胶膜测厚仪

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: THI-1801
  • 产地:济南
  • 太阳能封装胶膜测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

C11295 多点纳米膜厚测量仪

C11295 多点纳米膜厚测量仪

  • 品牌: 北京滨松光子
  • 型号: C11295
  • 产地:日本
  • C11295 多点纳米膜厚测量仪C11295型多点纳米膜厚测量系统使用光谱相干测量学,用以测量半导体制造过程中的薄膜厚度,以及安装在半导体制造设备上的APC和薄膜的质量控制。C11295可进行实时多点测量,也可以在膜厚测量中同时测量反射率(透射率)、目标颜色以及暂时变化?;队锹奖跛芍泄轮形耐?/www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性多达15点同时测量无参照物工作通过光强波动校正功能实现长时间稳定测量提醒及警报功能(通过或失败)反射(透射)和光谱测量高速、高准确度实时测量不整平薄膜精确测量分析光学常数(n,k)可外部控制参数型号C11295-XX*1可测膜厚范围(玻璃)20 nm to 100 μm*2测量可重复性(玻璃)0.02 nm*3 *4测量准确度(玻璃)±0.4 %*4 *5光源氙灯测量波长320 nm to 1000 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*4工作距离10 mm*4可测层数最多10层分析FFT 分析,拟合分析测量时间19 ms/点*7光纤接口形状SMA测量点数2~15外部控制功能Ethernet接口USB 2.0(主单元与电脑接口)RS-232C(光源与电脑接口)电源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗约330W(2通道)~450W(15通道)*1:-XX,表示测点数*2:以 SiO2折射率1.5来转换*3:测量400 nm 厚SiO2 薄膜的标准偏差*4:取决于所使用的光学系统或物镜的放大率*5:可保证的测量范围列在VLSI标准测量保证书中*6:卤素灯型为C11295-XXH*7:连续数据采集时间不包括分析时间

C11665-01 微米膜厚测量仪

C11665-01 微米膜厚测量仪

  • 品牌: 北京滨松光子
  • 型号: C11665-01
  • 产地:日本
  • C11665-01 微米膜厚测量仪C11665-01型光学微米测厚仪是一款非接触薄膜测厚仪器,它将光源、探测器和数据分析??榧傻揭桓鱿涮謇?,实现了紧凑型设计。在半导体行业,TSV技术的广泛应用使得基底测厚成为至关重要的方面,与此同时半导体薄膜工业正将连接层制作的越来越薄。这些领域的进步需要1 μm到300 μm范围内高准确度的膜厚测量。C11665-01可对多种类型的材料(硅基底,薄膜等等)进行测厚,测量范围为0.5 μm 到 700 μm,这也是半导体和薄膜制造领域经常使用应用的厚度?;队锹奖跛芍泄轮形耐?/www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性无参照物工作尺寸紧凑,节省空间高速、高准确度不整平薄膜精确测量分析光学常数(n,k)可外部控制参数型号C11665-01可测膜厚范围(玻璃)0.5 μm to 700 μm*1可测膜厚范围(硅)0.5 μm to 300 μm*2测量可重复性(硅)0.1 nm*3 *4测量准确度(硅)±1 %*4 *5光源LED测量波长940 nm to 1000 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*4工作距离5 mm*4可测层数最大10层分析FFT 分析,拟合分析,光学常数分析测量时间19 ms/点*6光纤接口形状FC外部控制功能RS-232C / Ethernet电源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗85W*1:SiO2薄膜测量特性*2:Si薄膜测量特性*3:测量6 μm厚硅薄膜时的标准偏差*4:取决于所使用的光学系统或物镜的放大率*5:在标准量具的测量保证范围内*6:连续数据采集时间不包括分析时间

C11011-01W 微米膜厚测量仪

C11011-01W 微米膜厚测量仪

  • 品牌: 北京滨松光子
  • 型号: C11011-01W
  • 产地:日本
  • C11011-01W 微米膜厚测量仪C11011-01W型光学微米膜厚测量仪利用激光相干度量学原理,测量速度达60Hz,适用于产品线上在线测量。此外,选配的映射系统可以测量指定样品的厚度分布。C11011-01W应用广泛,比如用于产品制造过程监控或质量控制?;队锹奖跛芍泄轮形耐?/www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性利用红外光度测定进行非透明样品测量测量速度高达60 Hz测量带图纹晶圆和带?;つさ木г渤すぷ骶嗬胗成涔δ芸赏獠靠刂撇问秃臗11011-01W可测膜厚范围(玻璃)25 μm to 2900 μm*1可测膜厚范围(硅)10 μm to 1200 μm*2测量可重复性(硅)100 nm*3测量准确度(硅)< 500 μm: ±0.5 μm; > 500 μm: ±0.1 %*3光源红外LED(1300 nm)光斑尺寸φ60 μm*4工作距离155 mm*4可测层数一层(也可多层测量)分析峰值探测测量时间22.2 ms/点*5外部控制功能RS-232C / PIPE接口USB2.0电源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗50W*1:SiO2薄膜测量特性*2:Si薄膜测量特性*3:测量6 μm厚硅薄膜时的标准偏差*4:可选配1000mm工作距离的模型C11011-01WL*5:连续数据采集时间不包括分析时间

C11627-01 纳米膜厚测量仪系列

C11627-01 纳米膜厚测量仪系列

  • 品牌: 北京滨松光子
  • 型号: C11627-01
  • 产地:日本
  • C11627-01 纳米膜厚测量仪系列C11627-01型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。因其将光源、分光光度计和数据分析单元集成为一个单元,所以其配置紧凑,仅由一个主单元和光纤组成。此仪器设计紧凑,节省空间,适合安装进用户的系统中,可进行多种目标的测量。此外,该仪器为无参照物测量,因此省略了烦人的参照物测量,可长时间稳定地进行高速、高准确度测量?;队锹奖跛芍泄轮形耐?/www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性无参照物工作尺寸紧凑,节省空间高速、高准确度不整平薄膜精确测量分析光学常数(n,k)可外部控制参数型号C11627-01可测膜厚范围(玻璃)20 nm to 50 μm*1测量可重复性(玻璃)0.02 nm*2 *3测量准确度(玻璃)±0.4 %*3 *4光源LED测量波长420 nm to 720 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*3工作距离10 mm*3可测层数最多10层分析FFT 分析,拟合分析,光学常数分析测量时间19 ms/点*5光纤接口形状FC外部控制功能RS-232C,Ethernet电源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗70W*1:以 SiO2折射率1.5来转换*2:测量400 nm 厚SiO2 薄膜的标准偏差*3:取决于所使用的光学系统或物镜的放大率*4:可保证的测量范围列在VLSI标准测量保证书中*5:连续数据采集时间不包括分析时间

C10178-01 纳米膜厚测量仪系列

C10178-01 纳米膜厚测量仪系列

  • 品牌: 北京滨松光子
  • 型号: C10178-01
  • 产地:日本
  • C10178-01 纳米膜厚测量仪系列C10178-01型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。通过光谱相干,可快速、高灵敏度、高准确度地测量膜厚。由于使用我公司的光子多通道分析仪(PMA)为探测器,在测量多种滤光片、镀膜等的膜厚的同时,还可以测量量子收益、反射率、透射率以及吸收系数等多种项目?;队锹奖跛芍泄轮形耐?/www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性高速、高准确度实时测量映射功能不整平薄膜精确测量分析光学常数(n,k)可外部控制与特定附件配合,可测量量子收益、反射率、透射率以及吸收系数等。参数型号C10178-01测量模型标准型(通用测量)可测膜厚范围(玻璃)20 nm to 50 μm*1测量可重复性(玻璃)0.01 nm*2 *3测量准确度(玻璃)±0.4 %*3 *4光源卤素灯测量波长400 nm to 1100 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*3工作距离10 mm*3可测层数最多10层分析FFT 分析,拟合分析,光学常数分析测量时间19 ms/点*5光纤接口形状φ12套筒型外部控制功能RS-232C, 通过PIPE或Ethernet进行内部软件数据传输接口USB2.0电源AC100 V to 120 V/ AC200 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗250W*1:以 SiO2折射率1.5来转换*2:测量400 nm 厚SiO2 薄膜的标准偏差*3:取决于所使用的光学系统或物镜的放大率*4:可保证的测量范围列在VLSI标准测量保证书中*5:连续数据采集时间不包括分析时间

C12562 纳米膜厚测量仪系列

C12562 纳米膜厚测量仪系列

  • 品牌: 北京滨松光子
  • 型号: C12562
  • 产地:日本
  • C12562 纳米膜厚测量仪系列C12562型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。光学膜厚测量仪系列可以测量薄至10nm的薄膜,而可测范围达到10nm到1100μm,因此可用来测量多种目标。此外,该测量仪可达到100Hz的高速测量,因此可进行快速移动的产品线进行测量?;队锹奖跛芍泄轮形耐?/www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性可测量10nm薄膜缩短测量周期(频率高达100Hz)增强型外部触发(适合高速测量)涵盖宽波长范围(400 nm到1100 nm)软件增加了简化测量功能可进行双面分析不整平薄膜精确测量分析光学常数(n,k)可外部控制参数型号C12562-02可测膜厚范围(玻璃)10 nm to 100 μm*1测量可重复性(玻璃)0.02 nm*2 *3测量准确度(玻璃)±0.4 %*3 *4光源卤素灯测量波长400 nm to 1100 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*3工作距离10 mm*3可测层数最多10层分析FFT 分析,拟合分析,光学常数分析测量时间3 ms/点*5光纤接口形状FC外部控制功能RS-232C, Ethernet电源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗80W*1:以 SiO2折射率1.5来转换*2:测量400 nm 厚SiO2 薄膜的标准偏差*3:取决于所使用的光学系统或物镜的放大率*4:可保证的测量范围列在VLSI标准测量保证书中*5:连续数据采集时间不包括分析时间

广州兰泰涂层测厚仪

广州兰泰涂层测厚仪

  • 品牌: 广州兰泰
  • 型号: 微涂层测厚仪 CM-1210-200N (铝基,微涂层)
  • 产地:广州
  • 专用于微小工件上的涂层测量。 * 非铁基涂层测厚仪。 * 具有单次和连续两种测量方式可选。 * 公/英制单位转换。 * 具有手动关机、自动关机和欠压提示等功能。 * 自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质。

广州兰泰薄膜测厚仪粗糙度仪 SRT-6210S (Ra/Rz/Rq/Rt)

广州兰泰薄膜测厚仪粗糙度仪 SRT-6210S (Ra/Rz/Rq/Rt)

  • 品牌: 广州兰泰
  • 型号: 粗糙度仪 SRT-6210S (Ra/Rz/Rq/Rt)
  • 产地:广州
  • 仪器采用计算机技术,符合国标GB/T 6062及ISO,DIN,ANSI和JIS四项标准。测量工件表面粗糙度时,将传感器放在工件被测面上,由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行,传感器通过内置的锐利触针感受被测表面粗糙度,此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移,该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化,从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比列的模拟信号,该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统,DSP芯片将采集的数据进行数字滤波和参数计算,测量结果在液晶显示器显示出来,同时可以与PC机通讯,实现数据分析和打印。

供应RoHS检测仪器/无卤检测仪

供应RoHS检测仪器/无卤检测仪

  • 品牌: 深圳禾苗
  • 型号: E8
  • 产地:深圳
  • HeLeeX E8是一款专门RoHS检测仪器,其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF尖端技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;HeLeeXE8精密度高、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器。

美国布鲁克台阶仪

美国布鲁克台阶仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: DektakXT
  • 产地:美国
  • 纳米尺度的表面轮廓测量、薄膜厚度测量、表面形貌测量、应力测量和平整度等精密测量,应用于微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域

高精度蛋白肠衣膜厚度测试仪,测厚仪

高精度蛋白肠衣膜厚度测试仪,测厚仪

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: 1801
  • 产地:济南
  • 济南思克提供蛋白肠衣膜厚度测试仪,测厚仪分 辨 率:0.1μm产品信息,如您想了解更多关于蛋白肠衣膜厚度测试仪,测厚仪价格、型号、参数及厂家信息

THI专用锂电隔膜高精度测厚仪

THI专用锂电隔膜高精度测厚仪

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: 1801
  • 产地:济南
  • THI专用锂电隔膜高精度测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

对比栏隐藏对比栏已满,您可以删除不需要的栏内商品再继续添加!
您还可以继续添加
您还可以继续添加
您还可以继续添加
您还可以继续添加
您还可以继续添加